Mostrando entradas con la etiqueta AFM-IR. Mostrar todas las entradas
Mostrando entradas con la etiqueta AFM-IR. Mostrar todas las entradas

lunes, 11 de marzo de 2013

Desarrollan una nueva técnica de identificación química a escala nanométrica

Durante más de 20 años, los investigadores han usado microscopios de fuerza atómica (AFM) para medir y caracterizar materiales a escala nanométrica. Sin embargo, las mediciones de las propiedades químicas y de la química de materiales basadas en AFM no eran posibles, hasta ahora.